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蔡司X射线显微镜纳米级的原位实验

分类:公司新闻 发布时间:2022-09-15 479次浏览

  蔡司X射线显微镜纳米级的原位实验填补了原位测试的空白  材料研究旨在探究在非...

  赣州蔡司赣州X射线显微镜纳米级的原位实验填补了原位测试的空白

  材料研究旨在探究在非自然环境条件或外部刺激下出现的特性。如果您的目标是观察微观结构的变化并将其与材料的性能相联系,那么原位测试方法就是您的理想之选。对这些变化进行现场成像,并对能代表整体特性的样品量进行研究,也同样重要。

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  Xradia Ultra尤其适用于纳米级的原位实验和成像:它可以让您在实验室里对三维结构进行无损成像,而且样品在实现纳米级图像分辨率的同时,还能实现足够代表性的样品量。

  

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  原位测试的近似成像分辨率,按样品厚度和透明度分类。蔡司Xradia Ultra填补了SEM/TEM的纳米级图像分辨率(仅限于表面成像或极薄样品)和微米级断层扫描之间的空白。

  


  在自然状态下对您的样品进行原位观察

  了解形变故障和失效与局部纳米级特征的关系。通过补充现有的力学测试方法,您可以深入了解跨多个长度尺度的性能。蔡司Xradia Ultra力学加载台利用无损三维成像,以特殊的方式实现了压缩、拉伸、压痕等原位纳米力学测试。这使您可以研究内部结构的三维演变,在载荷状态下,图像分辨率可达50 nm。

  进行原位加热实验

  在高温下研究降解过程、热膨胀和相变等纳米级的材料变化。蔡司Xradia Ultra的Norcada加热台使您能够对高温样品进行纳米级的无损三维成像。MEMS加热器技术可在空气中将样品加热至500℃, 其灵活的设计使得用同样的部件即可实现样品加热或样品偏压。

  


  

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  尽享LaserFIB提供的快捷样品制备优势

  即使感兴趣区域深埋在样品内部,您也能够迅速定位您的感兴趣区域(ROI),同时,您还可以轻松制备用于使用蔡司Xradia Ultra或同步辐射测试的柱状样品。使用将蔡司Crossbeam FIB-SEM与超短脉冲飞秒激光相结合的LaserFIB,助您实现跨多个尺度的关联工作流。例如,您可以使用先前获得的三维X射线显微镜数据集找到您的感兴趣区域,并用Cut-to-ROI工作流对它们进行进一步的分析。使用飞秒激光切割毫米级的材料并制备样品,用Xradia Ultra进行分析, 然后,再利用FIB-SEM的功能进行纳米和微米级的铣削、断层扫描、成像和分析。


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